X 射线 Talbot-Lau 干涉仪特性与管加速电压关系的实验研究
光学
2015-04-21 v3
摘要
X 射线 Talbot-Lau 干涉仪已最广泛地用于配合传统低亮度 X 射线源进行 X 射线相位衬度成像，它能产生高灵敏度的相位和暗场图像，适用于产生低吸收衬度的样品，因而对未来临床诊断具有巨大潜力。在本手稿中，我们将 X 射线管的加速电压从 35 kV 改变至 45 kV，在每个整数 kV 位置对测试样品进行 X 射线相位衬度成像，以研究位于日本东北大学先进材料多学科研究所的 X 射线 Talbot-Lau 干涉仪的特性与管电压的关系。实验结果和数据分析表明，该 X 射线 Talbot-Lau 干涉仪在一定范围内对管加速电压不敏感，在上述管电压范围内保持了约 44% 的条纹可见度。这项实验研究表明，利用该 X 射线 Talbot-Lau 干涉仪实现潜在的新型双能相位衬度 X 射线成像策略和粗略折射谱测量是可行的。
引用
@article{arxiv.1410.7655,
title = {Experimental research on the feature of an X-ray Talbot-Lau interferometer vs. tube accelerating voltage},
author = {Shenghao Wang and Renfang Hu and Zhili Wang and Kun Gao and Kai Zhang and Atsushi Momose and Ziyu Wu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1410.7655},
year = {2015}
}
备注
9 pages, 7 figures.(English improved and discussion part revised)