物质波双缝实验中的奇异环状轨迹

我们研究了物质波双缝实验中奇异环状轨迹的观测。我们将 $x=0$ 处的相对强度视为干涉仪内从双缝到屏幕的飞行时间的函数。这使我们能够定义一个与奇异环状轨迹对干涉图样贡献相关的条纹可见度。我们证明了 Sorkin 参数可以用该可见度和包含 Gouy 相位的轴向相位来表示。我们验证了如何通过测量屏幕上的相对强度来获得该参数。我们表明，通过简单调整双缝装置的参数，可以显著增强奇异环状轨迹的效应。将我们的结果应用于中子干涉测量，我们得到了量级为 $|\kappa_{max}|\approx0.2$ 的最大 Sorkin 参数，这正是条纹可见度的值。