量子点中激子自旋松弛时间的连续光致发射光谱测量
材料科学
2009-11-10 v1
摘要
我们展示了一种通过连续光致发射测量半导体纳米结构中激子自旋松弛时间的新方法。我们发现，对于自组装CdTe量子点，当激发偏振激子进入低能自旋态时，发射的圆偏振度大于当激子进入高能自旋态时的情况。一个简单的速率方程模型给出CdTe量子点中激子自旋松弛时间为4.8±0.3 ns，显著长于量子点激子复合时间300 ps。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0308116,
title = {Exciton Spin Relaxation Time in Quantum Dots Measured by Continuous-Wave Photoluminescence Spectroscopy},
author = {S. Mackowski and T. A. Nguyen and H. E. Jackson and L. M. Smith and J. Kossut and G. Karczewski},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0308116},
year = {2009}
}
备注
11 pages, 3 figures