二维材料中亚波长尺度的激子映射
介观与纳米尺度物理
2019-06-25 v1
摘要
我们在 MoS 与 MoSe 单层之间的扩散界面处进行了空间分辨的 EELS 测量。利用单色化电子源（20 meV），我们通过在纳米尺度获取低损谱，成功探测了界面附近的激子。激子映射清晰显示出即便测量点间距为 10 nm 也存在变化；因此光学带隙可以纳米级分辨率测量，该分辨率比所发射光子的波长小 50 倍。通过在同一区域进行核心损失 EELS，我们观察到激子特征的变化随化学成分而变化。激子峰在界面及非均匀区域处更宽，可能源于界面粗糙与合金化效应。此外，我们未观察到激子峰跨界面的移动，可能因界面宽度并不远大于激子玻尔半径。
引用
@article{arxiv.1906.09409,
title = {Exciton mapping at subwavelength scales in two-dimensional materials},
author = {Luiz H. G. Tizei and Yung-Chang Lin and Masaki Mukai and Hidetaka Sawada and Ang-Yu Lu and Lain-Jong Li and Koji Kimoto and Kazu Suenaga},
journal= {arXiv preprint arXiv:1906.09409},
year = {2019}
}