直接从层析图中估计二分系统的纠缠度

我们研究了直接从层析图（tomogram）中提取二分系统纠缠程度的优势，因为后者是实验中直接获得的。相较于在利用从层析图进行态重构的 machinery 后评估子系统间纠缠程度的的标准流程，这将提供一种更优的替代方案。后者既繁琐又涉及统计方法，而直接从层析图推断纠缠则规避了这些局限。在早前的一篇论文中，我们已确定了一种直接从层析图获得二分纠缠指示量的方法。为评估该指示量的效能，我们现在通过使用两个非线性二分模型，将该层析指示量与子系统线性熵、子系统冯·诺伊曼熵等标准纠缠标记以及由逆参与比获得的常用指示量进行详细比较。为此选取的两个模型系统分别是与辐射场相互作用的多能级原子，以及双阱玻色-爱因斯坦凝聚体。我们还考察了这两个系统的特定初态对该层析指示量表现的作用。此外，通过该指示量与子系统冯·诺伊曼熵之差的时间序列分析，评估了层析纠缠指示量在系统动力学演化过程中的效率。