叠加正弦信号个数的估计

噪声中存在叠加正弦信号个数的估计是统计信号处理中一个重要的模型阶数选择(MOS)问题。本文中，我们提出一种设计用于估计叠加正弦信号个数的MOS算法的新方法。我们提出的方法部分基于最小错误概率准则。同时，我们大量关注MOS算法的性能与一致性分析。本研究中，错误概率被用作MOS算法的通用性能度量。我们提出一个理论框架，使得能够对广泛MOS算法进行一致性分析并获得其近似错误概率的闭式表达式。作为示例，我们将该框架应用于若干用于估计叠加正弦信号个数的MOS算法的一致性与性能分析。利用所得结果，我们对所提MOS算法进行参数优化。最后，我们考察了用于MOS算法设计与性能分析的拟似然方法。所提理论框架被用于确定拟似然方法的适用范围。