Pilot-PSI 中不同等离子体条件下碳的侵蚀产额
等离子体物理
2012-10-15 v1 材料科学
摘要
细晶石墨靶材已在 Pilot-PSI 中暴露于与 ITER 偏滤器相关的等离子体环境下，以研究聚变装置中的材料迁移问题。分别采用光学发射光谱和质量损失测量来量化总化学侵蚀和净侵蚀产额。研究了离子轰击能量和靶材几何形状对碳侵蚀产额的影响。结论表明，总化学侵蚀的时间演化与等离子体暴露表面的形貌变化密切相关。当靶材部分被绝缘氮化硼环覆盖时，净碳侵蚀产额会增加。
引用
@article{arxiv.1210.3502,
title = {Erosion yields of carbon under various plasma conditions in Pilot-PSI},
author = {K. Bystrov and J. Westerhout and M. Matveeva and A. Litnovsky and L. Marot and E. Zoethout and G. De Temmerman},
journal= {arXiv preprint arXiv:1210.3502},
year = {2012}
}
备注
14 pages, 4 figures, Contribution to the 19th International Conference on Plasma Surface Interactions