全同粒子的纠缠与探测过程

我们引入了探测器级纠缠，这是一个针对全同粒子的统一纠缠概念，它考虑了通过探测过程可能删除的多粒子路径信息。该概念蕴含了一种对粒子有效不可区分性的度量，该度量由测量装置控制，并量化了波函数的（反）对称化对物理可观测量影响的程度。最初不可区分的粒子在向可区分态转变的过程中可能获得或失去纠缠，且其量子统计行为取决于其初始纠缠。我们的结果表明，纠缠不能单独归因于全同粒子的状态，而必须将探测过程纳入分析。