基于磁透射X射线显微镜测量的元素分辨一阶反转曲线
材料科学
2024-06-12 v1
摘要
一阶反转曲线（FORC）方法是一种宏观测量技术，可用于提取滞回系统的定量微观性质。利用磁透射X射线显微镜（MTXM），对20 nm厚的CoTb薄膜进行了局域元素分辨FORC测量。显微镜测量的FORC揭示了磁场循环协议下的逐步畴演化，并提供了FORC图机理解释的直接可视化。其与磁强计FORC进行比较并显示出良好的定量一致。此外，MTXM的高空间分辨率与元素分辨灵敏度提供了在多组分系统（包括异质结构中的埋层）内对小区域或特定相进行FORC测量的新能力。利用MTXM-FORC对具有涡旋状Landau结构的矩形微结构测量，展示了在极小特征上执行FORC的能力。本工作展示了两种独特强大技术的融合，以实现对纳米尺度磁行为的定量洞察。
引用
@article{arxiv.2210.05739,
title = {Element-Specific First Order Reversal Curves Measured by Magnetic Transmission X-ray Microscopy},
author = {Dustin A. Gilbert and Mi-Young Im and Kai Liu and Peter Fischer},
journal= {arXiv preprint arXiv:2210.05739},
year = {2024}
}