介电基底上中性粒子的静电自组装：基于多重镜像法与有效偶极子方法的理论研究

本文发展了一种多重镜像法，用于精确计算中性介电粒子与均匀带电介电基底之间的静电相互作用。粒子与溶剂介质之间的介电常数差异导致粒子内部正负极化发生反转。溶剂介质与基底之间的介电常数差异则导致粒子与基底之间的作用力由吸引转变为排斥。由于相互感应，基底上的极化电荷会产生非均匀静电场。这些静电操控特性决定了粒子是被吸附到基底上还是被推离基底。自组装粒子倾向于在基底上聚集成稳定的六方结构。这些发现为涉及介电基底上中性粒子的自组装过程提供了新的见解。