Al-Cu-Fe 薄膜的电子传输性质
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
在较小温度 T=720 K 下，通过控制电导和热电势，将 Al-Cu-Fe 的非晶样品晶化为二八相。对比不同退火状态下的非晶态和所得到的准晶相 (在同一样品上进行)，显示出惊人的电导相似性，但在热电势上存在巨大差异。
关键词
引用
@article{arxiv.cond-mat/9911371,
title = {Electronic-Transport Properties of Al-Cu-Fe Thin Films},
author = {R. Haberkern and C. Roth and R. Knoefler and F. Zavaliche and P. Haeussler},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9911371},
year = {2007}
}
备注
4 pages, 4 figures, Conf. Proc. ICQ6 (Tokyo, 1997)