双量子点中的电子输运
介观与纳米尺度物理
2009-11-07 v2
摘要
我们综述了两个纵向量子点以串联方式耦合的电子输运实验。以双点电化学势的术语给出电荷稳定图的介绍。共振隧穿实验表明，双点几何结构允许准确确定量子点中离散能态本征寿命。磁场下离散能级的演化被研究。分辨率足以解析量子点光谱中的避免交叉。通过微波谱学，可以探测双点人工分子中隧道耦合从离子键（弱隧道耦合）到共价键（强隧道耦合）的转换。本综述由于其在实现固态量子比特方面的相关性，旨在概述双量子点研究的当前实验状态。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0205350,
title = {Electron transport through double quantum dots},
author = {W. G. van der Wiel and S. De Franceschi and J. M. Elzerman and T. Fujisawa and S. Tarucha and L. P. Kouwenhoven},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0205350},
year = {2009}
}
备注
32 pages, 31 figures