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半导体伽马探测器阵列中的电子寿命测定

仪器与探测器 2017-01-16 v1

作者: Uri Lachish

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摘要

Hecht 方程不足以分析利用探测器阵列单像素所进行的迁移率-寿命乘积标准测量。我们推导了一个修正表达式，以便从实验数据获得正确的迁移率-寿命值。

关键词

电子寿命半导体伽马探测器探测器阵列 Hecht方程迁移率-寿命乘积

引用

@article{arxiv.1701.03459,
  title  = {Electron Lifetime Determination in Semiconductor Gamma Detector Arrayes},
  author = {Uri Lachish},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1701.03459},
  year   = {2017}
}