NaV$_2$O$_5$ 共振非弹性 X 射线散射中电子关联效应
强关联电子
2009-11-07 v1
摘要
采用元素和位点特异的共振非弹性 X 射线散射光谱 (RIXS) 用于探讨 {} 中的电子关联效应。与单光子技术相比，RIXS 在钒 边缘能够探测 V d 带之间的 跃迁。观察到一个在 -1.56 eV 处的尖锐能量损失特征，该特征由包含关联效应的模型计算成功复现。该计算将能量损失特征鉴定为 lower Hubbard 带与 upper Hubbard 带之间的跃迁，并允许精确确定 Hubbard 相互作用参数 eV。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0201497,
title = {Electron Correlation Effects in Resonant Inelastic X-ray Scattering of NaV2O5},
author = {G. P. Zhang and T. A. Callcott and G. T. Woods and L. Lin and Brian Sales and D. Mandrus and J. He},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0201497},
year = {2009}
}
备注
15 pages, four figures, accepted to Phys. Rev. Lett