利用薄膜电阻器对自组装聚电解质多层膜的电学检测
软凝聚态物质
2007-05-23 v1 材料科学
摘要
通过基于绝缘体上硅(SOI)的薄膜电阻器观察了聚电解质多层膜(PEMs)的组装。吸附在传感器表面的带不同电荷的聚电解质产生确定的电势偏移，该偏移随沉积层数的增加而减小。我们假设通过 PEMs 内部移动离子对聚电解质电荷的静电屏蔽来建立器件响应模型。发现 PEMs 内部的 Debye 屏蔽长度与体溶液对应的值相比有所增加。此外，利用移动离子在体相和聚电解质薄膜之间的分配，计算了 PEMs 的介电常数和移动电荷浓度。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0601090,
title = {Electrical Detection of Self-Assembled Polyelectrolyte Multilayers by a Thin Film Resistor},
author = {Petra A. Neff and Ali Naji and Christof Ecker and Bert Nickel and Regine von Klitzing and Andreas R. Bausch},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0601090},
year = {2007}
}
备注
18 pages, 5 figures