氖/C4F7N 混合物中介质表面的电荷衰减
等离子体物理
2025-06-23 v1 材料科学
摘要
利用原位电场诱导第二谐波(EFISH)技术测量电场，研究氖-C4F7N（Novec4710，C4）混合物中介质表面的电荷衰减。通过在间隙中产生击穿放电将电荷沉积于氧化铝表面，并通过电流测量和数值建模确定电荷数量。对于不同C4F7N掺杂比例（0%、10%、50%）的混合物，电荷在沉积后60小时仍被检测到。发现C4F7N掺杂导致表面电荷持续时间显著延长，表明电荷衰减速度减慢。通过等温电荷衰减模型识别纯氖电荷沉积的电荷陷阱，这些陷阱与文献中已有结果一致。C4F7N混合物的电荷沉积导致陷阱的修改或新陷阱的形成，具有更高的陷阱能。利用EFISH测量确定C4F7N非线性超极化率张量分量。将EFISH方法和电气测量方法所得实验结果与数值模型进行直接比较，深入揭示了介质表面的电荷分布，最终实现电荷密度的估计。
引用
@article{arxiv.2506.16142,
title = {Electrical charge decay on dielectric surface in nitrogen/C4F7N mixtures},
author = {D. Prokop and M. Mrkvickova and J. Tungli and Z. Bonaventura and P. Dvorak and S. Kadlec and T. Hoder},
journal= {arXiv preprint arXiv:2506.16142},
year = {2025}
}
备注
38 pages