基于角度光学扫描的高效、吉级尺寸、无像差的全切片扫描器
光学
2024-07-31 v1 图像与视频处理
摘要
全切片成像提供横跨活检或手术样本截面的宽视野 (FOV)，显著促进了病理分析和临床诊断。使能够详细可视化细胞和组织结构的高质量图像对于有效的患者护理和治疗计划至关重要。为了获得用于病理学应用的此类高质量图像，需要具备高空间带宽积、无像差且无需 z 扫描的扫描仪。本文报道一种基于具有闭式解的角度光学扫描的全切片成像系统 (WSI-APIC)，其提供高效、十吉像素、大视野、无像差的成像。WSI-APIC 利用斜入射光学扫描进行初始高层分割，从而绕过背景区域的不必要扫描并提高图像采集效率。GPU 加速的 APIC 算法以有效的数字像差校正和改进的光学分辨率来重构相位图像。此外，基于尺度不变特征变换的自动拼接技术确保了全切片相位图像的无缝拼接。在我们的实验中，WSI-APIC 使用 10x/0.25 NA 目标镜头实现了 772 nm 的光学分辨率，并捕获了标准 76.2 mm x 25.4 mm 显微切片的 80 吉像素无像差相位图像。
引用
@article{arxiv.2407.20469,
title = {Efficient, gigapixel-scale, aberration-free whole slide scanner using angular ptychographic imaging with closed-form solution},
author = {Shi Zhao and Haowen Zhou and Siyu Lin and Ruizhi Cao and Changhuei Yang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2407.20469},
year = {2024}
}