多GEM探测器中的高电荷密度效应
仪器与探测器
2016-11-17 v1 高能物理 - 实验
摘要
本文提出了一项得到系统测量和数值计算支持的综合研究，关于多GEM探测器在暴露于极高粒子通量或在大增益下工作时的内在极限。观测到的增益、离子回流和脉冲高度谱的变化通过正离子的空间分布及其在整个放大结构中的运动效应得到解释。所涉及过程的固有动态特性要求使用非标准模拟工具来解释测量。用有限元分析软件进行的计算复现了探测器的观测行为。这种对极端条件下探测器的详细描述的影響是多方面的：它澄清了已观察到的一些探测器行为，有助于定义GEM技术的内在极限，并提出了扩展这些极限的方法。
引用
@article{arxiv.1512.04968,
title = {Effects of High Charge Densities in Multi-GEM Detectors},
author = {S. Franchino and D. Gonzalez Diaz and R. Hall-Wilton and H. Muller and E. Oliveri and D. Pfeiffer and F. Resnati and L. Ropelewski and M. Van Stenis and C. Streli and P. Thuiner and R. Veenhof},
journal= {arXiv preprint arXiv:1512.04968},
year = {2016}
}
备注
5 pages, 6 figures, 2015 IEEE Nuclear Science Symposium