双掩模三重 GEM 探测器中的充电-up 与逆充电-up 现象
仪器与探测器
2026-05-06 v1 高能物理 - 实验
摘要
气体电子乘子 (GEM) 探测器因其优异的位置分辨率和高粒子通量处理能力而广泛应用于高能物理 (HEP) 实验中作为跟踪器件。由于存在介质介质 (Kapton) 薄膜，GEM 探测器中会发生已知的充电-up 现象，当其暴露于高辐射并施加高电压时，即发生充电-up。当辐射率降低时，观察到一种补充性现象，即逆充电-up，其中增益会逐渐放松回其初始值。本文研究了使用 70/30 氩气和二氧碳混合气体操作的双掩模三重 GEM 室中的充电-up 和逆充电-up 效应。这些测量提供了对增益在辐射下的变化及其稳定行为的详细理解。本文呈现了实验 setup、方法以及结果。
引用
@article{arxiv.2605.02922,
title = {Charging-up and reverse charging-up phenomena in a double-mask triple GEM detector},
author = {S. Mandal and S. Ghosh and S. Das and S. Biswas},
journal= {arXiv preprint arXiv:2605.02922},
year = {2026}
}
备注
14 pages, 9 figures