薄层有效材料参数反演：理论及其在石墨烯、薄银膜和单层超材料中的应用

从样品的模拟或测量散射参数中提取有效材料参数是超材料领域的一项重要工具。本文讨论了一种适用于可近似为二维散射片的薄膜结构的反演方法。我们从散射参数确定有效片电导率，并指出磁片电流对于避免超定反演问题的重要性。随后，我们展示了该片反演方法的两个应用。首先，我们确定了薄银膜的有效片电导率，并将所得电导率与石墨烯的片电导率进行了比较。其次，我们将该方法应用于具有电偶极子共振的切割线超材料。该方法适用于二维超材料和频率选择表面等薄膜结构，并且易于推广至各向异性或手性介质。