晶粒形状对多晶薄膜团聚的影响
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
晶界沟槽是多晶材料中在晶界与界面或自由表面相交处普遍发生的现象。这一现象在理论上已被研究了一段时间。特别是小面化界面背景下的晶界沟槽引起了人们的关注。然而，这些工作并未考虑薄膜的情况以及界面形状对团聚的影响。在本快报中，我们比较了具有圆化界面和小面化界面的薄膜的团聚行为。晶粒形状可以通过晶界沟槽显著影响多晶薄膜的团聚。各向异性在小面化薄膜的抗团聚稳定性中起着核心作用。即使小面界面能之间的微小差异也可能使小面化晶粒失稳，或者相反，使其在任何厚度下都完全稳定。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0610062,
title = {Effect of grain shape on the agglomeration of polycrystalline thin films},
author = {Mathieu Bouville},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0610062},
year = {2007}
}
备注
3 pages, 3 figures