拓扑绝缘体本征表面态引起的Edelstein与逆Edelstein效应
介观与纳米尺度物理
2019-10-25 v1
摘要
采用半经典方法研究了三维拓扑绝缘体本征表面态引起的Edelstein效应。随机杂质散射与无隙狄拉克锥自旋-动量锁定的联合效应产生了与化学势和温度无关的电流诱导表面自旋积累。通过将半经典方法与Bloch方程结合，很好地解释了将自旋泵浦自旋流转换为电荷流的逆Edelstein效应。这些结果与各种实验的一致性将详细阐述。
引用
@article{arxiv.1907.10486,
title = {Edelstein and inverse Edelstein effects caused by the pristine surface states of topological insulators},
author = {Wei Chen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1907.10486},
year = {2019}
}
备注
12 pages, 1 figure. arXiv admin note: substantial text overlap with arXiv:1901.06953