膜-反膜与介电膜的动力学衰变

利用 D 膜有效场论，我们研究了不稳定膜系统的动力学衰变：(i) 间距为 l 的平行膜-反膜对和 (ii) 介电膜。我们特别给出了这些不稳定系统的衰变宽度的显式表达式，并描述了隧穿效应后衰变如何进行。衰变 (i) 通过使用 Dp-Dpbar 上的快子有效作用进行分析。对湮灭始于快子畴壁气泡的成核，该畴壁代表连接这些膜的喉，隧穿衰变宽度被发现正比于 exp(-l^{p+1} T_{Dp})。我们还研究了留下对应于低维膜的拓扑缺陷的衰变，这可能与最近的暴胀膜世界情景相关。至于衰变 (ii)，首先我们观察到 Dp 膜在非平凡的 RR 场强中通常会“卷曲”。利用这一观点，我们通过构造漏斗形状的相关欧几里得反弹解来计算介电 D2 膜的衰变宽度。我们还给出了甜甜圈形状的新解，这些解涉及从无到有的介电膜成核。