具有位置无序的二维约瑟夫森结阵列的动态临界行为
超导电性
2009-11-11 v1
摘要
我们在电阻分路结动力学方案下数值研究了具有位置无序的二维 (2D) 约瑟夫森结阵列的动态临界行为。电流-电压特性的大规模计算提供了证据，支持在强无序区和弱无序区都在非零临界温度下发生相变。弱无序下的相变似乎属于 Berezinskii-Kosterlitz-Thouless (BKT) 类型。相比之下，在强无序区发现了非 BKT 转变的证据。这些结果与最近关于位置无序约瑟夫森结阵列的实验（Yun 等人，cond-mat/0509151）一致；特别是，非 BKT 转变的临界温度（以约瑟夫森耦合强度 为单位，范围从 0.265 到最小值 0.22，即 单位）、相关长度临界指数 以及强无序区的动态临界指数 与二维规范玻璃模型的现有研究一致。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0608390,
title = {Dynamic critical behaviors in two-dimensional Josephson junction arrays with positional disorder},
author = {Jaegon Um and Beom Jun Kim and Petter Minnhagen and M. Y. Choi and Sung-Ik Lee},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0608390},
year = {2009}
}
备注
Phys. Rev. B (in press)