空间干扰相关与 Nakagami 衰落下的双分支 MRC 接收机

尽管最大比合并（MRC）在实践中无处不在，但其在存在干扰情况下的性能尚未被充分理解。由于每根天线接收到的干扰源自同一组干扰源，但在衰落信道上部分去相关，因此它具有复杂的关联结构。本文利用随机几何开发了一个现实的分析模型，准确地考虑了干扰相关性。通过将干扰建模为具有独立 Nakagami 衰落的泊松散粒噪声过程，我们推导了双分支干扰感知 MRC 的链路成功概率。利用这一结果，我们表明常见的假设（即所有接收天线经历相等的干扰功率）低估了真实性能，尽管这种差距随着干扰链路的 Nakagami 参数 $m_{\text{I}}$ 的增加而迅速衰减。相比之下，忽略干扰相关性会导致对 MRC 性能的高度乐观估计，尤其是对于较大的 $m_{\text{I}}$。在低中断概率机制下，我们的成功概率表达式可以大大简化。分析得出的观察结果包括：(i) 对于较小的路径损耗指数，MRC 与最小均方误差合并表现出相似的性能；(ii) 在干扰受限情况下，MRC 相对于选择合并的增益小于在研究较多的噪声受限情况下的增益。