纳米晶铁电聚合物中的畴壁粗糙度与蠕变
材料科学
2013-09-11 v2 无序系统与神经网络
摘要
我们报告了利用压电响应力显微镜对 11 至 36 nm 厚的结晶聚偏氟乙烯 - 三氟乙烯 (PVDF-TrFE) 薄膜中畴壁 (DWs) 静态和动态性质的研究。畴壁粗糙度指数范围为 0.39 至 0.48，畴壁蠕变指数变化范围为 0.20 至 0.28，揭示出约 1.5 的意外有效维数，且该维数与薄膜厚度无关。我们的结果表明层状聚合物中主要存在二维铁电性，并将这种分形维数归因于面内与面外极化之间的相关性导致的畴壁去粗糙化效应，该效应可被利用以实现高横向畴密度，从而开发基于纳米尺度铁电体的应用。
引用
@article{arxiv.1301.1377,
title = {Domain wall roughness and creep in nanoscale crystalline ferroelectric polymers},
author = {Z. Xiao and Shashi Poddar and Stephen Ducharme and X. Hong},
journal= {arXiv preprint arXiv:1301.1377},
year = {2013}
}
备注
13 pages, 4 figures, and supplementary information