光电子能谱测量中是否存在能量损失的干扰？
凝聚态物理
2007-05-23 v1
摘要
近期 R. Joynt 于 Science 284, 第 777 页 (1999 年) 的论文中提出，在劣导电性固体中，靠近费米能级的光电子能谱可能受到类似于高分辨率电子能量损失光谱 (HR-EELS) 中外生能量损失过程的强烈影响，从而遮蔽了关于态密度或单电子格林函数的信息。本文提出了若干理论与实验论据，表明一旦电子离开固体后发生的能量损失过程对能谱的贡献仅很小，大多数情况下可被忽略或视为无结构背景。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0010475,
title = {Does EELS haunt your photoemission measurements?},
author = {K. Schulte and M. A. James and P. G. Steeneken and G. A. Sawatzky and R. Suryanarayanan and G. Dhalenne and A. Revcolevschi},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0010475},
year = {2007}
}
备注
6 pages, figures included. Submitted to PRB