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耦合腔阵列的耗散性质

量子物理 2010-06-24 v1

摘要

我们提出了一种分析耦合腔阵列耗散性质的方法。利用一种准玻色子,我们证明与热库的耦合会重整化局域模以及腔间的相互作用。由于无需提及热库的坐标,该方法在概念上具有很大优势,并且在计算上也有优势。基于该结果,我们研究了阵列中的单光子输运,并给出了总透射率。此外,我们还提出了一个用于衡量阵列品质的参数。

关键词

引用

@article{arxiv.1006.4412,
  title  = {Dissipation Properties of Coupled Cavity Arrays},
  author = {ke liu and Lei Tan},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1006.4412},
  year   = {2010}
}

备注

4 pages 2 figures