移动接触线动力学中的耗散

我们假设两种不同的耗散机制来研究移动接触线的形变动力学。我们指出，对于波长为 $2\pi/|k|$ 的形变，其特征松弛时间为 $\tau^{-1}(k)=c(v) |k|$。$c(v)$ 的速度依赖性被表明严重取决于耗散机制：我们发现 $c(v)=c(v=0)-2 v$ 当动力学由接触线尖端单个分子跳跃控制时（Blake 机制），以及 $c(v)\simeq c(v=0)-4 v$ 当移动液体楔内的粘性水力损失占主导时（de Gennes 机制）。我们因此建议，可以通过类似 Ondarcuhu-Veyssie 实验 [T. Ondarcuhu 和 M. Veyssie, Nature {\bf 352}, 418 (1991)] 的松弛测量来确定争议中主导的耗散机制。