通过高纯偏振测量解耦X射线二向色性与双折射
仪器与探测器
2021-01-12 v3 光学
摘要
高亮度同步辐射源为X射线偏振分析开辟了超越光学域传统偏振测量的新途径。采用交叉设置的线性X射线偏振器可实现低至10的偏振消光比。这使得该方法能够灵敏探测极微小的光学各向异性，例如强场QED中由真空双折射与二向色性所引起的各向异性。本文表明，高纯偏振测量可用于以极高灵敏度和光谱分辨率揭示凝聚态体系中的电子各向异性。以CuO和LaCuO为基准体系，我们给出了Cu K吸收边附近偏振变化的完整表征，并将其分解为二向色性与双折射贡献。在衍射极限同步辐射源和X射线激光器中，偏振消光比可达10，我们的方法有望用于评估极端电磁场中量子真空的双折射与二向色性。
引用
@article{arxiv.2003.00849,
title = {Disentangling X-ray dichroism and birefringence via high-purity polarimetry},
author = {Annika T. Schmitt and Yves Joly and Kai S. Schulze and Berit Marx-Glowna and Ingo Uschmann and Benjamin Grabiger and Hendrik Bernhardt and Robert Loetzsch and Amélie Juhin and Jérôme Debray and Hans-Christian Wille and Hasan Yavaş and Gerhard G. Paulus and Ralf Röhlsberger},
journal= {arXiv preprint arXiv:2003.00849},
year = {2021}
}
备注
10 pages, 4 figures, 13 pages supplemental material (4 figures)