利用背照CCD实现μm级精度的直接X射线成像
天体物理学
2009-11-07 v1 仪器与探测器
摘要
Charge-coupled device（CCD）是光学波段标准的成像仪器，其图像质量受限于像素大小。CCD也可在X射线波段工作，但性能有显著差异。光学光子仅产生一个电子，而X射线光子一次性产生大量电子。我们发展了一种精确确定X射线相互作用点的亚像素分辨率方法。特别地，我们发现，背照CCD可高效地作为精细成像仪器。我们在此报告我们方法的有效性通过实际成像实验。
引用
@article{arxiv.astro-ph/0204014,
title = {Direct X-ray Imaging of $\mu$m precision using Back-Illuminated CCD},
author = {E. Miyata and M. Miki and H. Tsunemi and J. Hiraga and H. Kouno and K. Miyaguchi},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0204014},
year = {2009}
}
备注
7 pages, 2 figures. Accepted for publication of Japanese Journal of Applied Physics Express Letter. High resolution file is available from http://wwwxray.ess.sci.osaka-u.ac.jp/~miyata/paper/bi_sharp_res.pdf