量子电路单故障诊断
量子物理
2015-12-17 v1
摘要
检测与隔离故障对量子电路的综合至关重要。在电路故障分析中现已常规接受的单故障假设下，我们表明故障量子电路的行为可由单个故障门及相应的故障模型完全表征。这使我们能够高效确定测试输入态以及测量策略，从而可利用极少的测试用例并以最小错误概率检测每个单门故障；事实上，我们证明在大多数常用量子门在单缺失门故障(SMGF)模型下可被无误差隔离。我们关键地利用了电路的量子特性，展示了对现有量子电路自动测试模式生成(ATPG)工作的巨大改进。
引用
@article{arxiv.1512.05051,
title = {Diagnosis of single faults in quantum circuits},
author = {Debajyoti Bera and Subhamoy Maitra and Sparsa Roychowdhury and Susanta Chakraborty},
journal= {arXiv preprint arXiv:1512.05051},
year = {2015}
}