利用倾斜自旋进动测定石墨烯中的自旋寿命各向异性
介观与纳米尺度物理
2018-04-26 v1
摘要
我们测定了石墨烯中自旋极化载流子的自旋寿命各向异性。与先前方法不同，我们的方法不需要大的面外磁场，因此对于低载流子密度和高载流子密度均可靠。我们首先通过磁场垂直于石墨烯平面的常规自旋进动测量确定面内自旋寿命。随后，为评估面外自旋寿命，我们实施倾斜磁场下的自旋进动测量，其产生面外自旋布居。我们发现，二氧化硅上石墨烯的自旋寿命各向异性在载流子密度与低至 150 K 的温度范围内均独立，且远弱于先前报道。事实上，在实验不确定度内，自旋弛豫是各向同性的。结合自旋寿命的栅压依赖性，这表明自旋弛豫由磁性杂质或随机自旋轨道场或规范场驱动。
引用
@article{arxiv.1804.09556,
title = {Determination of the spin-lifetime anisotropy in graphene using oblique spin precession},
author = {Bart Raes and Jeroen E. Scheerder and Marius V. Costache and Frédéric Bonell and Juan F. Sierra and Jo Cuppens and Joris Van de Vondel and Sergio O. Valenzuela},
journal= {arXiv preprint arXiv:1804.09556},
year = {2018}
}
备注
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