高 X 射线强度下多波长反常衍射系数的测定
原子物理
2017-02-16 v1 介观与纳米尺度物理
原子与分子团簇
生物物理
光学
摘要
多波长反常衍射（MAD）的高强度版本具有利用 X 射线自由电子激光（XFELs）解决飞秒晶体学中相位问题的潜力。对于 MAD 相位测定，需要计算或测量关键方程中涉及的 MAD 系数，这些系数依赖于 XFEL 脉冲参数。在本工作中，我们重新审视广义 Karle-Hendrickson 方程，以阐明强 X 射线脉冲诱导的重原子构型涨落的重要性，并研究含重原子样品的透射和荧光测量在高强度下的情况。基于对已知结构晶体样品的透射/荧光和衍射实验，我们提出了一种在高 X 射线强度下测定所有 MAD 系数的实验程序，该方法可用于未知结构的 \emph{ab initio} 相位测定。
引用
@article{arxiv.1305.3489,
title = {Determination of multiwavelength anomalous diffraction coefficients at high x-ray intensity},
author = {Sang-Kil Son and Henry N. Chapman and Robin Santra},
journal= {arXiv preprint arXiv:1305.3489},
year = {2017}
}
备注
16 pages, 3 figures. This is an author-created, un-copyedited version of an article accepted for publication in the special issue of "Frontiers of FEL science" in J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. IOP Publishing Ltd is not responsible for any errors or omissions in this version of the manuscript or any version derived from it