软X射线耀斑内核的电子密度和填充因子测定
太阳与恒星天体物理
2015-05-27 v1
摘要
在测定软X射线（SXR）耀斑内核电子密度的标准方法中，需要假设内核沿视线方向的延伸长度。这是所获密度存在显著不确定性的一个来源。在我们之前的论文（Bak-Steslicka and Jakimiec, 2005）中，我们提出了另一种推导电子密度的方法，该方法无需假设内核沿视线方向的延伸长度。关键在于，许多耀斑在衰减阶段沿稳态模型序列演化[准稳态（QSS）演化]，此时可以利用为稳态模型导出的标度律来确定电子密度。本文的目的是：(1) 改进这两种密度测定方法，(2) 比较这两种方法获得的密度。我们选取了多个在衰减阶段表现出QSS演化的耀斑。对于这些耀斑，我们分别使用标准方法和我们的QSS方法推导了电子密度N。通过比较两种不同方法获得的N值，我们得以：(1) 检验所获密度，(2) 评估SXR发射等离子体的体积填充因子。总体而言，我们发现两种方法获得的电子密度值吻合良好（无大的系统性差异），但在某些情况下，数值差异可达2倍。对于大多数耀斑内核，在耀斑极大值附近估计的填充因子约为1。
引用
@article{arxiv.1104.0845,
title = {Determination of electron density and filling factor for soft X-ray flare kernels},
author = {Jerzy Jakimiec and Urszula Bak-Steslicka},
journal= {arXiv preprint arXiv:1104.0845},
year = {2015}
}
备注
Accepted for publication in Solar Physics