太阳耀斑软X射线辐射的统计性质

我们给出了由2002–2017年GOES观测到的耀斑导出的软X射线（SXR）辐射、等离子体温度（T）和发射度（EM）性质的统计分析。温度和发射度使用TEBBS算法（Ryan等人2012）获得，该算法即使对弱的B级耀斑事件也能给出可靠结果及不确定度。超过96%的耀斑表现出T、SXR和EM极大值的顺序出现，与色球蒸发过程的预期行为一致。此类耀斑的相对数目随SXR流量极大值的增大而增加。对于B级耀斑，SXR极大值在时间上比>=C级耀斑更接近T极大值，而对于M和X级耀斑则非常接近EM极大值。我们将耀斑定义为“T控制”，如果SXR与T极大值间的时间间隔至少比EM与SXR极大值间的时间间隔短两倍；并定义为“EM控制”，如果EM与SXR极大值间的时间间隔至少比SXR与T极大值间的时间间隔短两倍。对于任何考虑的耀斑级别范围，与EM控制事件相比，T控制事件具有：a) 更高的EM但更低的T；b) 更长的持续时间和更短的相对增长时间；c) 更长的FWHM和特征衰减时间。基于单环动力学分析对这些统计结果的解释表明，对于相同级别范围的耀斑，T控制事件可在比EM控制事件更长的环中发展。