通过磁光电流检测低维ZnO结构中的缺陷诱导磁性
材料科学
2015-04-23 v1
摘要
由于磁有序区域的产率相对较小，在单个低维氧化物结构中检测缺陷诱导的磁序通常很困难。本工作中，我们研究了室温下不同ZnO样品在光辐照后测量的瞬态光电流受外部磁场的影响。我们发现，磁场仅在磁有序的ZnO样品中引起瞬态光电流弛豫速率的改变。该速率随磁场可减小或增加，取决于磁有序区域是在ZnO样品的体内还是仅在其表面。本文报道的现象对于磁光低维氧化物器件的开发具有重要意义，并为低维磁性半导体中磁序的检测提供了新指南。
引用
@article{arxiv.1504.05828,
title = {Detection of defect-induced magnetism in low-dimensional ZnO structures by Magnetophotocurrent},
author = {Israel Lorite and Yogesh Kumar and Pablo Esquinazi and Carlos Zandalazini and Silvia Perez de Heluani},
journal= {arXiv preprint arXiv:1504.05828},
year = {2015}
}
备注
5 pages, 4 figures