利用微角秒天体测量探测和表征行星系统
地球与行星天体物理
2015-05-13 v1
摘要
天体测量作为一种技术,无论是作为后续工具还是独立搜索围绕邻近恒星运行的类行星质量伴星,迄今为止都证明其用途有限。然而,这种情况将在未来十年内发生改变。在这篇综述中,我首先总结了过去和现在通过毫角秒天体测量探测行星的努力。接下来,我概述了未来的地面和空间努力必须应对的各种技术、统计和天体物理挑战,以实现所需的天体测量测量精度。然后,我讨论了旨在达到微角秒精度的未来天体测量天文台的行星发现能力,特别关注它们完整描述多组分系统的能力。最后,我将天体测量置于背景中,说明其作为其他间接和直接探测与表征行星系统方法的补充,对行星科学做出重要贡献的潜力。
引用
@article{arxiv.0902.2063,
title = {Detection and Characterization of Planetary Systems with $\mu$as Astrometry},
author = {A. Sozzetti},
journal= {arXiv preprint arXiv:0902.2063},
year = {2015}
}
备注
22 pages, 4 figures. Invited contribution at the conference Extrasolar Planets in Multi-Body Systems: Theory and Observations (Torun, Poland, August 25-29, 2008). To appear in the European Astronomical Society Publication Series