双星系统中行星的微引力透镜探测
天体物理学
2009-11-13 v1
摘要
我们证明了微引力透镜可用于探测双星系统中的行星。这是因为在行星双星系统的几何构型中,当行星绕双星组件之一运行且另一颗伴星位于远处时,行星和次级伴星都会在环绕宿主恒星的共同区域产生扰动,从而在高放大倍率透镜事件的光变曲线中同时检测到行星和双星伴星的信号。我们发现,当次级伴星位于取决于行星类型的特定范围内时,识别双星系统中的行星效果最佳。所提出的方法可以探测到分离距离 <~ 100 AU 的双星系统中质量低至十分之一木星质量的行星。这些行星质量和双星分离距离的范围未被其他方法覆盖,因此微引力透镜能够使行星双星样本更加丰富。
引用
@article{arxiv.0709.1992,
title = {Microlensing Detections of Planets in Binary Stellar Systems},
author = {Dong-Wook Lee and Chung-Uk Lee and Byeong-Gon Park and Sun-Ju Chung and Young-Soo Kim and Ho-Il Kim and Cheongho Han},
journal= {arXiv preprint arXiv:0709.1992},
year = {2009}
}
评论
5 pages, two figures in JPG format