探测星系团中的质量子结构：用于引力弯曲的孔径质量统计量

引力弯曲最近被引入作为一种可以绘制和研究星系团中子结构的技术。先前的弯曲分析测量了单个星系-星系的弯曲信号，或者使用参数化技术或KSB型反演来重建Abell 1689中的质量分布。在本文中，我们提出了弯曲的孔径质量统计量，并将其应用于通过射线追踪模拟穿过简单解析质量分布和来自Millennium模拟的星系团所获得的背景星系透镜图像。我们表明，即使在中等背景源数密度和图像分辨率下，该方法也能在亚角分尺度上以高信噪比有效检测和精确追踪星系团内的结构。此外，与使用引力剪切数据的弱透镜质量重建相比，该方法提供了关于星系团整体形状和小尺度结构的更多信息。最后，我们讨论了如何利用孔径质量的零点来推断使用该方法识别的结构的质量。