10 keV 多程透射电子显微镜的设计
应用物理
2019-04-26 v1
摘要
多程透射电子显微镜（MPTEM）已被提出作为减少辐射敏感材料损伤的方法。对于冷冻电子显微镜（cryo-EM）领域，这将显著减少创建 3D 模型所需的投影数量，并允许对低对比度、更高异质性的样品进行成像。我们设计了一台 10 keV 的概念验证 MPTEM。该镜筒具有快速切换的门控电子镜，使每个电子多次探测样品。我们发展了多程对比传递函数（CTF）的线性近似，以解释分辨率如何依赖于穿过样品的次数。
引用
@article{arxiv.1904.11064,
title = {Design for a 10 KeV Multi-Pass Transmission Electron Microscope},
author = {Stewart A. Koppell and Marian Mankos and Adam J. Bowman and Yonatan Israel and Thomas Juffmann and Brannon B. Klopfer and Mark A. Kasevich},
journal= {arXiv preprint arXiv:1904.11064},
year = {2019}
}