用于增强折射率传感的伍德异常简并破除
光学
2017-02-09 v1
摘要
我们介绍了一种基于纳米尺度槽天线阵列的超高灵敏折射率(RI)传感检测技术，该阵列通过单次光刻步骤在薄金层上铣削而成。我们在电信波长范围内的实验品质因数(FOMs)为140-210，接近标准传播型SPR传感器的根本极限(~250)。实现这一点的潜在机制是槽天线的窄带谐振与略微非垂直照明下伍德异常简并破除的结合。此外，我们探究了该器件对分析物层深度的敏感性。通过修改槽尺寸和阵列间距，该概念可轻松调谐至任何所需波长和RI范围，从而使其在众多传感应用中极有用处。
引用
@article{arxiv.1702.02343,
title = {Degeneracy breaking of Wood's anomaly for enhanced refractive index sensing},
author = {Michal Eitan and Zeev Iluz and Yuval Yifat and Amir Boag and Yael Hanein and Jacob Scheuer},
journal= {arXiv preprint arXiv:1702.02343},
year = {2017}
}