扫描近场光学显微镜中基于深度学习的光学常数提取
光学
2023-04-19 v1
摘要
扫描近场光学显微镜是纳米尺度系统光谱学最有效的技术之一。然而，由于扫描探针与样品之间复杂且高度非线性的相互作用，从测得的近场信号推断光学常数可能颇具挑战。应用于该问题的常规拟合方法常受限于缺乏收敛性或需要人工干预。在此我们开发了一种替代方法，其中光学参数提取由深度学习网络自动化。与传统对应方法相比，我们的方法在应用于模拟近场光谱时展现出更优的精度、抗噪稳定性以及计算速度。
引用
@article{arxiv.2202.02979,
title = {Deep-Learning-Aided Extraction of Optical Constants in Scanning Near-Field Optical Microscopy},
author = {Yueqi Zhao and Xinzhong Chen and Ziheng Yao and Mengkun Liu and Michael M. Fogler},
journal= {arXiv preprint arXiv:2202.02979},
year = {2023}
}
备注
9 pages, 5 figures