面向可重构智能表面的深度学习辅助检测
信号处理
2020-07-28 v2
摘要
本文提出一种深度学习(DL)方法，用于估计和检测通过可重构智能表面(RIS)传输的信号中的符号。所提出的网络利用全连接层从通过 RIS 接收的反射信号中估计信道和相位角。由于该网络可在无任何导频信令的情况下估计和检测符号，本方法降低了传输所需的开销。该方法在误码率方面所取得的改进得到了量化，其性能优于传统检测器。
引用
@article{arxiv.1910.09136,
title = {Deep-Learning-Aided Detection for Reconfigurable Intelligent Surfaces},
author = {Saud Khan and Komal S Khan and Noman Haider and Soo Young Shin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1910.09136},
year = {2020}
}
备注
8 pages and 7 figures