SIM PlanetQuest 的稠密场天体测量 II：改进的仪器模型
天体物理学
2009-11-13 v1
摘要
在之前的一篇论文中，我们描述了一种估计未来空间干涉测量任务 (SIM) 在稠密场中对目标进行天体测量观测时预期单次测量偏差的方法。该研究基于一种简化的仪器和测量过程模型，涉及单像素焦平面探测器、理想化的光谱仪以及在延迟扫描期间对条纹的连续采样。在本文中，我们 elaborated 了这一“仪器模型”，以包含以下额外的复杂性：利用薄棱镜进行光的色散，将仪器相机转变为物镜棱镜光谱仪；相机焦平面中的多像素探测器；以及在延迟扫描期间对条纹信号进行合并。使用这种改进模型获得的结果与使用早期简化模型获得的结果存在微小但系统性的差异。我们得出结论，正是焦平面探测器上色散条纹的像素化导致了这些差异。此处描述的改进仪器模型提出了减少某些类型混淆的额外方法，并为未来评估仪器效应提供了更好的基础。
引用
@article{arxiv.0805.4622,
title = {Crowded-Field Astrometry with SIM PlanetQuest. II. An Improved Instrument Model},
author = {R. Sridharan and Ronald J. Allen},
journal= {arXiv preprint arXiv:0805.4622},
year = {2009}
}
备注
15 pages, 10 figures, accepted for publication in PASP July 2008