镓中微子源实验中的截面不确定性

51Cr 中微子源实验在检验 GALLEX 与 SAGE 太阳中微子实验的整体运行中是独特的。近来 Hata 与 Haxton 认为，尽管有前角(p,n)测量，51Cr 中微子吸收的 71Ga 截面中激发态贡献可能不可靠获知。此处报道的大基壳模型计算表明，他们所设想的特殊情形——弱自旋与强自旋张量振幅之间的相消干涉——确实发生于 71Ge 第一激发态的跃迁。该计算为先前确定 51Cr 截面的步骤提供了反例：对该态预言的(p,n)截面与实验相符，而 BGT 值远在公认的 3 倍标准偏差限之外。结果主张对源实验解释的转变：它们成为对 71Ga 探测器对 7Be 太阳中微子响应的更关键测量，而作为 71Ge 回收与计数效率的完全独立检验则不那么确定。