GATE中X射线管电流曝光时间与X射线光子数的相关性
医学物理
2021-10-25 v1
摘要
X射线成像的图像质量在很大程度上依赖于X射线输出数量，而该数量取决于X射线管电流和曝光时间。X射线发光CT(XLCT)和X射线荧光CT(XFCT)等混合X射线成像模态依靠X射线管的强度来提供成像样本中纳米探针分布的精确图像重建。良好图像质量的一个限制因素是将会施加到成像对象上的辐射剂量。为了准确估计成像协议中的吸收剂量，最好使用诸如GATE(Geant4 Application for Tomographic Emission)之类的蒙特卡洛平台来模拟X射线成像。然而，GATE的输入是所模拟X射线管的光子数。迄今为止，尚无良好方法为期望的X射线管电流设置光子数。本工作中，使用通用电离室记录了微CT X射线管在不同电流曝光时间下的累积辐射剂量。使用GATE对不同X射线输出数量下电离室灵敏体积内的总吸收剂量(cGy)进行建模。在GATE模拟中的X射线光子数与管电流曝光时间(mAs)之间建立了线性回归模型。本工作的发现提供了一种将X射线管电流曝光时间(mAs)与GATE中X射线管模拟的X射线光子数相关联的方法。
引用
@article{arxiv.2110.11500,
title = {Correlation between X-ray tube current exposure time and X-ray photon number in GATE},
author = {Ignacio O. Romero and Yile Fang and Changqing Li},
journal= {arXiv preprint arXiv:2110.11500},
year = {2021}
}