关联渗流与关联电阻网络
统计力学
2009-10-28 v1
摘要
我们给出了当渗流键范围大于最近邻时Ising模型渗流性质的一些精确结果。我们证明，对于次近邻渗流范围，渗流阈值Tp仍然等于Ising临界温度Tc，并给出了此类渗流的相图。此外，我们给出了定义在Ising模型上的关联电阻网络有限尺寸行为的Monte Carlo计算。由此得到的电导热指数t = 0.2000 ± 0.0007。我们观察到其有限尺寸行为中没有标度修正。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9610088,
title = {Correlated percolation and the correlated resistor network},
author = {Paul J. M. Bastiaansen and Hubert J. F. Knops},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9610088},
year = {2009}
}
备注
16 pages, REVTeX, 6 figures included