校正红外反射或透射光谱中由热辐射引起的探测器饱和
光学
2021-03-26 v2 应用物理
仪器与探测器
摘要
我们发现，使用傅里叶变换光谱仪进行的温度依赖红外光谱测量（即反射率或透射率）可能存在显著误差，尤其是在样品温度升高以及使用物镜收集时（例如使用红外显微镜）。这些误差源于被测样品的热辐射到达探测器所导致的部分探测器饱和，从而随着样品温度升高出现非物理的反射率或透射率表观降低。在此，我们证明这些温度依赖误差可通过实施若干级光学衰减来校正，从而在热辐射信号减弱时对测得反射率或透射率进行“收敛测试”；或者可通过应用校正因子来校正，这些因子可通过考察样品预期无显著温度依赖的光谱区域推断得出。
引用
@article{arxiv.2012.14987,
title = {Correcting thermal-emission-induced detector saturation in infrared reflection or transmission spectroscopy},
author = {C. Yao and H. Mei and Y. Xiao and A. Shahsafi and W. Derdeyn and J. L. King and C. Wan and R. O. Scarlat and M. H. Anderson and M. A. Kats},
journal= {arXiv preprint arXiv:2012.14987},
year = {2021}
}