利用 B 样条曲面控制纳米光子器件伴随优化中的最小特征尺寸
光学
2020-04-22 v1 计算物理
摘要
伴随优化是纳米光子器件逆向设计中的一种有效方法。为确保可制造性，人们希望能够对最小特征尺寸进行控制。此处我们提出利用基于 B 样条曲面的水平集方法来控制特征尺寸。该方法首先被用于设计一个波分复用器。它也被用于实现一种用于人工神经计算的纳米光子结构。在这两种情况下，我们都表明最小特征尺寸可以容易地参数化并加以控制。
引用
@article{arxiv.1907.06548,
title = {Controlling the Minimal Feature Sizes in Adjoint Optimization of Nanophotonic Devices Using B-spline Surfaces},
author = {Erfan Khoram and Xiaoping Qian and Ming Yuan and Zongfu Yu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1907.06548},
year = {2020}
}
备注
6 pages, 4 figures